电容膜
1.产品结构
2.产品规格

3.产品表观
4.产品光学特性
※光学及ITO特性烘烤条件:热风循环式烘箱150℃×60min加热条件下执行。
※电阻均匀性公式:(Rmax-Rmin)/(Rmax+Rmin)。
(R0为加热前18点电阻平均值,R1为加热后18点电阻平均值)
5.产品物理特性
6.产品可靠性测试

※经过加热后(150℃×60min) ITO 膜片,进行上表可靠度测试,其规格与测试方法亦如上表。
※电阻变化率公式:(R2abs-R1abs)/R1。
※反射差公式:(蚀刻后反射率-蚀刻前反射率)abs。
(R1为加热后18点电阻平均值,R2为经可靠度测试后18点电阻平均值)

※电阻变化率公式:(R2abs-R1abs)/R1。
※反射差公式:(蚀刻后反射率-蚀刻前反射率)abs。
(R1为加热后18点电阻平均值,R2为经可靠度测试后18点电阻平均值)